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MIEL - CARACTERISATION DES MATERIAUX ET DES SYSTEMES
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Spectroscopie et imagerie Raman

Contacts : Michel MermouxNoël Rosman,  

La spectroscopie Raman est un outil de caractérisation non destructif de la composition et de la structure d’un matériau solide ou liquide.
Elle offre l'avantage de pouvoir analyser de très faibles quantité de matière, des surfaces et/ou des couches minces (imagerie Raman) et même d'explorer le volume de matériaux transparents en conservant une résolution spatiale de l'ordre de quelques microns (spectrométrie Raman confocale). 
 
L'imagerie Raman renseigne sur l'hétérogénéité structurale ou chimique de la zone observée avec une résolution spatiale pouvant être submicronique. On peut citer à titre d'exemple, la cartographie de contraintes dans les matériaux pour la micro-éléctronique par imagerie Raman UV à 363nm. La microphotoluminescence permet de réaliser des cartographies avec une bonne résolution spectrale couplée à l'imagerie Raman (localisation des dislocations dans la structure du GaN, structures de l'alumine polycristalline).
 
Le LEPMI dispose de plusieurs spectromètres couvrant des gammes spectrales allant du proche IR (785 nm) jusqu'à l'UV (325 nm).
- T64000 Jobin-Yvon visible (514, 488 et 647 nm) et UV (363 et 325 nm) (gestion CMTC)
- InVia RM 1000 Renishaw (514 nm)
- InVia Renishaw (2004) (514 et 785 nm)
- InVia Renishaw (2016) (325, 532 et 785 nm)
 

mise à jour le 17 décembre 2018

Univ. Grenoble Alpes