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Plateau technique Analyse élémentaire

Responsable : MARTIN Vincent (IR/CNRS)
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Le plateau technique ANALYSE ÉLÉMENTAIRE regroupe un ensemble de moyens de caractérisation du LEPMI. Il permet la caractérisation de matériaux minéralisés par ICP-MS ou de matériaux solides par XPS. Fort de son expérience dans le couplage instrumental avec l'électrochimie, le plateau technique ANALYSE ÉLÉMENTAIRE joue un rôle essentiel dans l'étude des mécanismes réactionnels et la compréhension des mécanismes de dégradation des catalyseurs.

Eléments dosables par ICP-MS

SES POINTS FORTS

  • Analyse d'éléments dissous avec des concentrations allant du g/L au ppb (SAA, ICP-OES, ICP-MS)
  • Analyse de traces jusqu'à la dizaine de ppt selon l'élément et la matrice (ICP-MS)
  • Analyse de 85% des éléments du tableau de Mendeleïev (ICP-MS)
  • Conception et développement instrumentaux couplant électrochimie à l'analyse (EC/ICP-MS, DEMS)
  • Développement de méthodes analytiques pour l'étude de solutions multi-éléments (ICP-MS)
  • Analyse élémentaire et des degrés d'oxydation à la surface des matériaux solides (XPS)
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SES ACTIVITÉS

  • Mesure des teneurs, taux de chargement, polluants, éléments traces...
  • Validation de protocoles de dissolution/minéralisation/synthèse...
  • Étude des mécanismes réactionnels de réactions électrochimiques
  • Étude in-situ des mécanismes de dégradation des catalyseurs durant le cyclage électrochimique
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ICP-MS avec les éléments du couplage EC/ICP-MS

mise à jour le 7 février 2024

Université Grenoble Alpes